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顯微鏡的鏡檢方法

一、明視野觀察法 BF(Bright field

       明視野鏡檢是大家比較熟悉的一種鏡檢方式,廣泛應用于病理、檢驗,用于觀察被染色的切片,所有顯微鏡均能完成此功能。

二、暗視野觀察法 DF(Dark field
       暗視野實際是暗場照明法。它的特點和明視野不同,不直接觀察到照明的光線,而觀察到的是被檢物體反射或衍射的光線。因此,視場成為黑暗的背景,而被檢物體則呈現明亮的象。
       暗視野的原理是根據光學上的丁道爾現象,微塵在強光直射通過的情況下,人眼不能觀察,這是因為強光繞射造成的。若把光線斜射它,由于光的反射,微粒似乎增大了體積,為人眼可見。
       暗視野觀察所需要的特殊附件是暗視野聚光鏡。它的特點是不讓光束由下至上的通過被檢物體,而是將光線改變途徑,使其斜射向被檢物體,使照明光線不直接進入物鏡,利用被檢物體表面反射或衍射光形成的明亮圖象。                                                                                                                                         暗視野觀察的分辨率遠高于明視野觀察,最高達0.02—0.004微米。

三、相差(襯)鏡檢法 PH(Phase contrast
       在光學顯微鏡的發展過程中,相差鏡檢術的發明成功,是近代顯微鏡技術中的重要成就。我們知道,人眼只能區分光波的波長(顏色)和振幅(亮度),對于無色通明的生物標本,當光線通過時,波長和振幅變化不大,在明場觀察時很難觀察到標本
       相差顯微鏡利用被檢物體的光程之差進行鏡檢,也就是有效地利用光的干涉現象,將人眼不可分辨的相位差變為可分辨的振幅差,即使是無色透明的物質也可成為清晰可見。這大大便利了活體細胞的觀察,因此相差鏡檢法廣泛應用于倒置顯微鏡。
四、微分干涉鏡檢法 DICDifferential interference contrast
       微分干涉鏡檢法出現于1960年代,它不僅能觀察無色透明的物體,而且圖象呈現出浮雕壯的立體感,并具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點,觀察效果更為逼真。
五、偏光鏡檢法 PO(Polarizing
       偏光鏡檢法是鑒定物質細微結構光學性質的一種方法。凡具有雙折射的物質,在偏光照射下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色發來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光鏡檢法。利用偏光原理制造出偏光顯微鏡,其特點就是將普通光改變為偏光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。 雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物,化學等領域。在生物學和植物學也有應用。

六、浮雕相襯鏡檢法 RC(RC
       1975年,Robert Hoffman 博士發明。
       2002年,專利到期,各顯微鏡廠家紛紛推出采用以自己名義命名的RC技術產品。
       其原理就是斜射光照射到標本產生折射、衍射,光線通過物鏡光密度梯度調節器產生不同陰影,從而使透明標本表面產生明暗差異,增加觀察對比度。此方法介于相差法和微分干涉法之間。
       其特點為提高未染色標本的可見性和對比度;圖象顯示陰影或近似三維結構而不會產生光暈;可檢測雙折射物質(巖石切片、水晶、骨頭可檢測玻璃,塑料等培養皿中的細胞,器官和組織;聚光鏡的工作距離可以設計的更長;RC物鏡也可用于明場,暗場和熒光觀察
七、熒光鏡檢法 FL(Fluorescence Microscopy
       熒光鏡檢法是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體,使之受激發后而產生長波長的熒光,然后觀察。
       其優點為檢出能力高(放大作用); 對細胞的刺激小(可以活體染色);能進行多重染色。
       用途為物體構造的觀察——熒光素;熒光的有無、色調比較進行物質判別——抗體熒光等;發熒光量的測定對物質定性、定量分析

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